[发明专利]一种瓦振校验仪无效
| 申请号： | 200810201491.0 | 申请日： | 2008-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN101726630A | 公开（公告）日： | 2010-06-09 |
| 发明（设计）人： | 徐健 | 申请（专利权）人： | 上海瑞视仪表电子有限公司 |
| 主分类号： | G01P21/00 | 分类号： | G01P21/00;G01H17/00 |
| 代理公司： | 上海三和万国知识产权代理事务所 31230 | 代理人： | 蔡海淳;陈伟勇 |
| 地址： | 201108 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种瓦振校验仪，属测量领域。包括接触式绝对振动校验单元和中央控制单元，其在中央控制单元设置Windows CE运行平台；在Windows CE运行平台中设置测量软件；将测量软件与接触式绝对振动校验单元整合；测量软件控制接触式绝对振动校验单元的运行或测量动作顺序，读取测量结果，进行测量参数的计算、显示和存储，自动绘制被测传感器实时波形、被测传感器线性曲线、频谱曲线、灵敏度误差曲线。可广泛用于各种瓦振(速度/烈度)振动系统的校验领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 校验 | ||
【主权项】：
一种瓦振校验仪，包括接触式绝对振动校验单元和中央控制单元，其特征是：在中央控制单元设置Windows CE运行平台；在Windows CE运行平台中设置测量软件；将测量软件与接触式绝对振动校验单元整合；测量软件控制接触式绝对振动校验单元的运行或测量动作顺序，读取测量结果，进行测量参数的计算、显示和存储，自动绘制被测传感器实时波形、被测传感器线性曲线、频谱曲线、灵敏度误差曲线。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海瑞视仪表电子有限公司，未经上海瑞视仪表电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810201491.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：磁性质轴承套圈残余奥氏体测量仪
- 下一篇：基于感应环线的冗余定位测速系统
