[发明专利]一种数控机床状态监测方法和装置有效

专利信息
申请号: 200810187384.7 申请日: 2008-12-30
公开(公告)号: CN101770218A 公开(公告)日: 2010-07-07
发明(设计)人: 时文刚;邵晓寅;王青岗;邢建辉;马维民;胡喜 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G05B19/406 分类号: G05B19/406
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 章社杲;李慧
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明公开了一种数控机床状态监测方法,包括:在被监测的数控机床上执行一系列传动链测试,每次测试对应一个不同的电机转频,并从中选定一个测试作为对比测试;记录每次测试过程中的测试信号,将其由时域转换到频域,得到每次测试所对应的频谱;基于所述频谱,自适应提取由于传动链状态异常所引起的特征频率;在时域中分别重构预先获取到的参考基准测试所对应的测试信号以及对比测试所对应的测试信号在每个特征频率处的信号特征分量,并计算这两类信号特征分量的总差异量百分比,判断该总差异量百分比是否大于预先设定的阈值,如果是,则进行告警。应用本发明所述的方法及对应的装置,能够方便准确地监测出数控机床中的异常状态。
搜索关键词: 一种 数控机床 状态 监测 方法 装置
【主权项】:
一种数控机床状态监测方法,其特征在于,该方法包括:以一次测试对应一个电机转频的方式在被监控的数控机床上执行一系列传动链测试,并从所述一系列测试中选定一个电机转频与预先执行的参考基准测试对应的电机转频相同的测试作为对比测试;所述参考基准测试为当所述传动链运行于已知的正常状态时所进行的测试;记录每次测试过程中的测试信号,并将所述测试信号由时域转换到频域,得到每次测试所对应的频谱;基于所述每次测试所对应的频谱,自适应提取由于传动链状态异常所引起的特征频率,组成特征频率集;在时域中分别重构所述参考基准测试所对应的测试信号以及所述对比测试所对应的测试信号在所述特征频率集中的每个特征频率处的信号特征分量;计算所述参考基准测试所对应的信号特征分量以及所述对比测试所对应的信号特征分量的总差异量百分比,并判断所述总差异量百分比是否大于预先设定的阈值,如果是,则进行告警。
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