[发明专利]检测被测对象中特定化学物质的方法及系统无效
| 申请号： | 200810171858.9 | 申请日： | 2008-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN101629906A | 公开（公告）日： | 2010-01-20 |
| 发明（设计）人： | 汪泓;郭浔;刘春伟 | 申请（专利权）人： | 欧普图垂斯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/65 | 分类号： | G01N21/65;G01N21/49;G01N33/487 |
| 代理公司： | 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 余长江 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明属于痕量化学物质检测领域，涉及检测被测对象中是否含有特定化学物质的方法及系统。本发明将被测对象的样品输送至一含有纳米级表面结构的探测器，使样品与纳米级表面结构相接触；用一激光束照射样品和纳米级表面结构；样品和纳米级表面结构散射所述激光束，产生一散射光；获得散射光的光谱；使用一光谱分析仪分析光谱信号，以检测被测对象中是否含有特定化学物质。本发明提供了简单和非侵入的检测方法，本发明的系统便于携带和易于操作。可用于反恐、邢侦、医学诊断、疾病预防、工业过程监测、环境清理和监测、检测假冒商品、产品鉴定、酒中甲醇和乙醇含量的检测、食品和药物质量控制等领域。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 对象 特定 化学物质 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种检测被测对象中特定化学物质的方法，其步骤包括：1)将来自被测对象的样品输送至一含有一第一纳米级表面结构的一第一探测器，使所述样品与第一纳米级表面结构相接触；2)用一激光束照射所述样品和第一纳米级表面结构；3)所述样品和第一纳米级表面结构散射所述激光束，产生-散射光；4)获得所述散射光的第一光谱；5)使用一光谱分析仪分析所述第一光谱，以检测被测对象中是否含有特定化学物质。
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