[发明专利]半导体器件无效
| 申请号: | 200810169610.9 | 申请日: | 2005-01-14 |
| 公开(公告)号: | CN101373764A | 公开(公告)日: | 2009-02-25 |
| 发明(设计)人: | 宇野友彰;白石正树;松浦伸悌;佐藤幸弘 | 申请(专利权)人: | 株式会社瑞萨科技 |
| 主分类号: | H01L25/16 | 分类号: | H01L25/16;H01L23/488;H01L23/31;H02M3/155 |
| 代理公司: | 北京市金杜律师事务所 | 代理人: | 王茂华 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | 本发明提供了一种半导体器件。在包括串联连接的高端开关功率MOSFET和低端开关功率MOSFET的非隔离DC-DC转换器中,在一个半导体芯片之中形成高端开关功率MOSFET和用于驱动高端和低端开关功率MOSFET的驱动器电路,而在另一个半导体芯片中形成低端开关功率MOSFET。在一个单一封装中密封两个半导体芯片。本发明提高了半导体器件的电压转换效率。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体器件 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括覆盖有树脂体的DC-DC转换器,所述DC-DC转换器包括高端MOSFET、低端MOSFET、用于驱动所述高端MOSFET的第一驱动器电路和用于驱动所述低端MOSFET的第二驱动器电路,所述树脂体具有顶表面和与所述顶表面相对的底表面,所述半导体器件包括:第一半导体芯片(5a),其包括所述高端MOSFET,所述第一半导体芯片具有第一源极焊盘(BP2)和第一漏极;所述第一源极焊盘面向所述树脂体的顶表面;第二半导体芯片(5b),其包括低端MOSFET,所述第二半导体芯片具有第二源极焊盘(BP6)和第二漏极;输入端子(ET1/7b1),其从所述树脂体的底表面暴露并且电连接到所述第一半导体芯片的第一漏极;地电位端子(ET3/7b2),其从所述树脂体的底表面暴露并且电连接到所述第二半导体芯片的第二源极焊盘;输出端子(ET4/7b3),其从所述树脂体的底表面暴露并且电连接到所述第一半导体芯片的第一源极焊盘和所述第二半导体芯片的第二漏极;金属板导体(30),其与所述第一半导体芯片的第一源极焊盘电连接且机械连接,所述第一半导体芯片的第一源极焊盘和所述第二半导体芯片的第二漏极通过所述金属板导体彼此电连接,其中所述第一半导体芯片在平面图中具有矩形形状,其中具有一对长边和一对短边,其中所述金属板导体布置成在平面图中与所述第一半导体芯片的一个长边重叠,其中所述第一半导体芯片的所述一个长边设置成使得所述第二半导体芯片和所述一个长边的最近距离小于所述第二半导体芯片和另一个长边的最近距离。
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