[发明专利]基于线结构光的大视场两轴测量装置无效

专利信息
申请号: 200810158226.9 申请日: 2008-10-20
公开(公告)号: CN101403606A 公开(公告)日: 2009-04-08
发明(设计)人: 解则晓;刘世晶;王琨;李绪勇;徐尚 申请(专利权)人: 中国海洋大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B11/00
代理公司: 青岛海昊知识产权事务所有限公司 代理人: 张中南
地址: 266100山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明涉及一种基于线结构光的大视场两轴测量装置。其特征是被测物体数控回转台和设置有线结构光测头的测头数控回转台被固定在作为参考平面的基座平板上,且两个数控回转台的转轴都近似垂直于基座平板,即两转轴相对于基座平板的倾斜角在88°~92°范围内,两转轴之间的距离在390mm~410mm范围内。其利用两个数控回转台的转动,使线结构光测头的结构光平面扫过被测物体一周来测量复杂物体的全貌,而得到整个被测物体在世界坐标系中的三维数据。本发明视场大、精度高、结构简单、成本低,克服了现有的三轴测量机构无法测量到物体的侧面和背面,以及四轴测量机构视场小、结构复杂、成本高的缺点。
搜索关键词: 基于 结构 视场 测量 装置
【主权项】:
1、一种基于线结构光的大视场两轴测量装置,其特征是被测物体数控回转台(3)和设置有线结构光测头(2)的测头数控回转台(1)固定在作为参考平面的基座平板(5)上,两个数控回转台(1、3)的转轴相对于基座平板(5)的倾斜角在88°~92°范围内,两转轴之间的距离在390mm~410mm范围内。
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