[发明专利]主动反射面天线的电性能预测方法有效

专利信息
申请号: 200810150306.X 申请日: 2008-07-11
公开(公告)号: CN101308177A 公开(公告)日: 2008-11-19
发明(设计)人: 段宝岩;李鹏;郑飞;杜李刚;季祥;王伟;宋立伟;王从思;周金柱;李华平 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 陕西电子工业专利中心 代理人: 王品华;黎汉华
地址: 71007*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种主动反射面天线的电性能预测方法,主要解决在主动反射面天线面板调整时难以预测电性能的问题。其过程是:基于天线的基本结构参数和主动面板的划分情况,得到主动面板的初始位姿;在单块面板上选取采样结点,计算结点的相位差,合成单块面板的相位差,最终合成天线反射面整体的相位差;利用四边形单元高斯积分公式计算天线远区电场分布,并获取天线的方向图和相关电参数;判断电参数是否满足天线设计要求,对满足要求的输出电参数和单块面板的位姿信息,否则调整主动面板,并重复上述分析过程,直到电性能满足要求。仿真结果表明,本发明适用对不同频段天线的电性能预测,可用于指导主动反射面天线的面板调整及电性能分析。
搜索关键词: 主动 反射 天线 性能 预测 方法
【主权项】:
1.一种主动反射面天线的电性能预测方法,包括如下过程:(1)根据天线的基本结构,确定天线的口径、焦径比、工作频率参数,同时得到主动反射面板块的分块信息,并将该信息整理成固定格式的数据文件;(2)获取每块主动反射面板的初始位置和姿态信息,并整理成固定格式的数据文件;(3)在每块主动反射面板上选取N个计算结点,利用面板的初始位姿信息,计算这些结点的Z向位移,求取每个结点的相位差,并将所有结点的相位差合成该单块反射面板的总相位差;(4)将单块主动反射面板的总相位差合成天线反射面整体的相位误差;(5)依据每个主动反射面板的相位误差和天线口径面场振幅分布,计算天线的远区场值,并绘制方向图,得到相关电参数;(6)根据天线设计的电性能要求,判断计算出的天线电参数是否满足要求,如果满足要求则输出天线电性能参数和主动反射面板的位姿信息;否则,通过主动反射面板的伺服控制机构调整面板位姿,并重复步骤(2)至步骤(5),直至满足要求。
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