[发明专利]半导体元件的测试装置无效
| 申请号： | 200810129314.6 | 申请日： | 2008-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN101614784A | 公开（公告）日： | 2009-12-30 |
| 发明（设计）人： | 陈石矶 | 申请（专利权）人： | 陈石矶 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/28;G01R1/073 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 汤保平 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种半导体元件的测试装置，是由一测试装置以及一探测装置所组成，探测装置中配置有一探针卡及用以承载一待测晶片的输送座，其中探针卡的特征在于配置多个具有弹性的金属凸点用以接触待测晶片。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 元件 测试 装置 | ||
【主权项】：
1、一种半导体元件的测试装置，是由一测试装置以及一探测装置所组成，该探测装置中配置有一探针卡及用以承载一待测晶片的输送座，其中该探针卡的特征在于，该探针卡之上配置多个具有弹性的金属凸点用以接触该待测晶片。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于陈石矶，未经陈石矶许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810129314.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种废旧塑料脱水装置
- 下一篇：电围栏激励器电路及控制储能电容充电的方法
