[发明专利]测试系统无效
| 申请号： | 200810126811.0 | 申请日： | 2008-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN101614774A | 公开（公告）日： | 2009-12-30 |
| 发明（设计）人： | 蔡竹青;许家荣 | 申请（专利权）人： | 环隆电气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 寿 宁;张华辉 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明是有关于一种测试系统，适于测试一待测单元，该测试系统包括：一测试平台，电性连接至该待测单元；以及一影像撷取单元，电性连接至该测试平台及/或该待测单元，该影像撷取单元适于撷取该待测单元显示的一测试资讯。本发明因为具有影像撷取单元，所以能藉由影像撷取单元来撷取测试过程中的资讯及测试结果，而可以使测试平台或待测单元能根据影像撷取单元所撷取到的测试过程中的资讯来决定下一测试步骤。本发明由于在测试的过程中不需要人为操作，所以可以节省测试时间，而能提升测试效率，并能够够避免人为失误。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 系统 | ||
【主权项】：
1、一种测试系统，适于测试一待测单元，其特征在于该测试系统包括：一测试平台，电性连接至该待测单元；以及一影像撷取单元，电性连接至该测试平台及/或该待测单元，该影像撷取单元适于撷取该待测单元显示的一测试资讯。
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