[发明专利]铌酸锂/Ⅲ族氮化物异质结铁电半导体薄膜制备方法及应用有效

专利信息
申请号: 200810124323.6 申请日: 2008-06-26
公开(公告)号: CN101315881A 公开(公告)日: 2008-12-03
发明(设计)人: 谢自力;张荣;严文生;修向前;韩平;陈鹏;陆海;赵红;刘斌;李弋;宋黎红;崔颖超;施毅;郑有炓 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;H01L21/02;H01L21/8247;C23C14/28
代理公司: 南京天翼专利代理有限责任公司 代理人: 汤志武;王鹏翔
地址: 210093*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: LiNbO3/III族氮化物异质结铁电半导体薄膜制备方法,采用金属有机物化学气相淀积方法在(0001)面蓝宝石衬底上先生长AlN/AlGaN等异质结构材料作为缓冲层或复合衬底;然后在此缓冲层采用高纯5N的铁电材料作为靶材,用脉冲激光沉积方法在所述异质结构缓冲层或复合衬底上获得高质量铁电材料薄膜;控制生长腔的真空在10-3Torr以上;将衬底温度升至300-900度,然后向腔内通入高纯氧,氧压控制在5-90帕;调整激光器频率设置为5HZ,能量为300mJ,并预先将激光预溅射靶材3-5分钟,清洁衬底表面的污染;最后,将脉冲激光聚焦于靶材上,打开靶源在异质结构复合衬底生长LiNbO3/III族氮化物异质结构铁电半导体薄膜。
搜索关键词: 铌酸锂 氮化物 异质结铁电 半导体 薄膜 制备 方法 应用
【主权项】:
1、LiNbO3/III族氮化物异质结铁电半导体薄膜制备方法,采用金属有机物化学气相淀积方法在(0001)面蓝宝石衬底上先生长AlN/AlGaN、AlN/GaN、AlGaN/GaN或GaN/InGaN异质结构材料作为缓冲层或复合衬底;然后在此缓冲层或复合衬底上采用高纯5N的LiNbO3作为靶材,用脉冲激光沉积方法在所述异质结构缓冲层或复合衬底上获得高质量铁电材料薄膜;其步骤如下:将清洁的异质结构复合衬底安装到PLD衬底台上,并连同LiNbO3靶材一起放入生长腔内;用机械泵、分子泵抽生长腔,控制生长腔的真空在10-3Torr以上;将衬底温度升至300-900度,然后向腔内通入高纯氧,氧压控制在5-90帕;调整激光器频率设置为5HZ,能量为300mJ,并预先将激光预溅射靶材3-5分钟,清洁衬底表面的污染;最后,将脉冲激光聚焦于LiNbO3靶材上,在其局部形成达上千度的高温区,使区内靶材表面上几十个纳米厚的一层物质被瞬时蒸发出来,打开靶源在上述工艺条件在异质结构复合衬底生长LiNbO3/III族氮化物异质结铁电半导体薄膜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京大学,未经南京大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810124323.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top