[发明专利]铌酸锂/Ⅲ族氮化物异质结铁电半导体薄膜制备方法及应用有效
申请号: | 200810124323.6 | 申请日: | 2008-06-26 |
公开(公告)号: | CN101315881A | 公开(公告)日: | 2008-12-03 |
发明(设计)人: | 谢自力;张荣;严文生;修向前;韩平;陈鹏;陆海;赵红;刘斌;李弋;宋黎红;崔颖超;施毅;郑有炓 | 申请(专利权)人: | 南京大学 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/02;H01L21/8247;C23C14/28 |
代理公司: | 南京天翼专利代理有限责任公司 | 代理人: | 汤志武;王鹏翔 |
地址: | 210093*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | LiNbO3/III族氮化物异质结铁电半导体薄膜制备方法,采用金属有机物化学气相淀积方法在(0001)面蓝宝石衬底上先生长AlN/AlGaN等异质结构材料作为缓冲层或复合衬底;然后在此缓冲层采用高纯5N的铁电材料作为靶材,用脉冲激光沉积方法在所述异质结构缓冲层或复合衬底上获得高质量铁电材料薄膜;控制生长腔的真空在10-3Torr以上;将衬底温度升至300-900度,然后向腔内通入高纯氧,氧压控制在5-90帕;调整激光器频率设置为5HZ,能量为300mJ,并预先将激光预溅射靶材3-5分钟,清洁衬底表面的污染;最后,将脉冲激光聚焦于靶材上,打开靶源在异质结构复合衬底生长LiNbO3/III族氮化物异质结构铁电半导体薄膜。 | ||
搜索关键词: | 铌酸锂 氮化物 异质结铁电 半导体 薄膜 制备 方法 应用 | ||
【主权项】:
1、LiNbO3/III族氮化物异质结铁电半导体薄膜制备方法,采用金属有机物化学气相淀积方法在(0001)面蓝宝石衬底上先生长AlN/AlGaN、AlN/GaN、AlGaN/GaN或GaN/InGaN异质结构材料作为缓冲层或复合衬底;然后在此缓冲层或复合衬底上采用高纯5N的LiNbO3作为靶材,用脉冲激光沉积方法在所述异质结构缓冲层或复合衬底上获得高质量铁电材料薄膜;其步骤如下:将清洁的异质结构复合衬底安装到PLD衬底台上,并连同LiNbO3靶材一起放入生长腔内;用机械泵、分子泵抽生长腔,控制生长腔的真空在10-3Torr以上;将衬底温度升至300-900度,然后向腔内通入高纯氧,氧压控制在5-90帕;调整激光器频率设置为5HZ,能量为300mJ,并预先将激光预溅射靶材3-5分钟,清洁衬底表面的污染;最后,将脉冲激光聚焦于LiNbO3靶材上,在其局部形成达上千度的高温区,使区内靶材表面上几十个纳米厚的一层物质被瞬时蒸发出来,打开靶源在上述工艺条件在异质结构复合衬底生长LiNbO3/III族氮化物异质结铁电半导体薄膜。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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