[发明专利]空间处理器单粒子试验自动化测试系统及方法有效

专利信息
申请号: 200810114876.3 申请日: 2008-06-13
公开(公告)号: CN101286126A 公开(公告)日: 2008-10-15
发明(设计)人: 兰利东;祝长民;颜洁;于立新;范隆;刘立全 申请(专利权)人: 北京时代民芯科技有限公司;中国航天时代电子公司第七七二研究所
主分类号: G06F11/00 分类号: G06F11/00;G01R31/00;G01R31/317
代理公司: 中国航天科技专利中心 代理人: 安丽
地址: 100076北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 空间处理器单粒子试验自动化测试系统及方法,包括主控处理器、被测处理器、监控主机,主控处理器与被测处理器之间通过PCI总线进行通信;主控处理器中配置可配置多场景测试模块、数据分析模块、自适应负反馈感应模块;处理显示模块配置在监控主机中;该系统及方法可以实现每轮次的试验针对多个测试向量进行,并且可以根据测试结果自动调节测试向量,确定最有效的测试向量,可靠性高。
搜索关键词: 空间 处理器 粒子 试验 自动化 测试 系统 方法
【主权项】:
1、空间处理器单粒子试验自动化测试系统,其特征在于:包括主控处理器、被测处理器、监控主机,主控处理器与被测处理器之间通过PCI总线进行通信;主控处理器中配置可配置多场景测试模块、数据分析模块、自适应负反馈感应模块;处理显示模块配置在监控主机中;可配置多场景测试模块,根据测试向量配置测试场景,将该测试场景通过PCI总线发送给被测处理器,并通知监控主机按照所述测试场景进行配置;被测处理器,根据接收的测试场景进行配置并工作,并将工作结果通过PCI总线存储到主控处理器的共享内存中;数据分析模块,对共享内存中的结果进行分析和统计,并将其结果发送给自适应负反馈感应模块和处理显示模块;自适应负反馈感应模块,对接收到的数据处理结果进行分析,判断是否需要重新配置测试场景,若需要对测试场景重新进行配置,则根据处理结果确定新的测试向量,并将该向量发送给可配置多场景测试模块;若不需要重新配置,则保持原有测试场景,继续运行;处理显示模块,对接收到的数据分析模块发送的结果进行处理、显示并自动生成测试报告。
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