[发明专利]半导体处理用的成膜方法无效
| 申请号: | 200810109994.5 | 申请日: | 2003-12-26 |
| 公开(公告)号: | CN101298667A | 公开(公告)日: | 2008-11-05 |
| 发明(设计)人: | 若林哲;冈部真也;村上诚志;森嶋雅人;多田国弘 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
| 主分类号: | C23C16/458 | 分类号: | C23C16/458;C23C16/46;H01L21/00;H01L21/285 |
| 代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 刘春成 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | 本发明提供一种半导体处理用的成膜方法,其具有:准备成膜装置的工序,该成膜装置具有处理容器、气体供给部、排气部、载置台、和激励机构;向处理容器内提供第一处理气体,通过等离子体CVD进行第一处理的工序,第一处理气体是通过电离主要产生第一极性的离子的气体;在第一处理后,进行稳定化处理容器内的状态的稳定化处理的工序,稳定化处理设定为,将通过电离主要产生与第一极性相反的第二极性的离子的稳定化处理气体,提供给处理容器内部,进行等离子体化;在稳定化处理后,将基板搬入处理容器内,在载置台的上面上载置基板的工序;和向处理容器内提供主处理气体,通过等离子体CVD进行主成膜处理,由此在载置台上的基板上形成膜的工序。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 处理 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体处理用的成膜方法,其特征在于,具有:准备成膜装置的工序,所述成膜装置具有:收容被处理基板的处理容器、向所述处理容器内提供处理气体的气体供给部、排气所述处理容器内部的排气部、配设在所述处理容器内且具有载置所述基板的上面的载置台、和在所述处理容器内产生等离子体的激励机构;向所述处理容器内提供第一处理气体,通过等离子体CVD来进行第一处理的工序,所述第一处理气体是通过电离主要产生第一极性的离子的气体;在所述第一处理后,进行稳定化所述处理容器内的状态的稳定化处理的工序,所述稳定化处理设定为,将通过电离主要产生与第一极性相反的第二极性的离子的稳定化处理气体,提供给所述处理容器内部,来进行等离子体化;在所述稳定化处理后,将所述基板搬入所述处理容器内,在所述载置台的所述上面上载置所述基板的工序;和向所述处理容器内提供主处理气体,通过等离子体CVD来进行主成膜处理,由此在所述载置台上的所述基板上形成膜的工序。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
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C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的





