[发明专利]用于辐射成像系统的紧凑型校正与准直装置有效

专利信息
申请号: 200810105429.1 申请日: 2008-04-29
公开(公告)号: CN101571496A 公开(公告)日: 2009-11-04
发明(设计)人: 刘耀红;邓艳丽;唐华平;曹艳峰;陈玉梅;闫忻水;贾玮;刘晋升 申请(专利权)人: 同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;A61B6/03
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 王庆海;王小衡
地址: 100084北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及了用于辐射成像系统的紧凑型校正与准直装置,其包括:准直组件;校正组件,由多个可分离的小校正块顺序排列组成;操纵装置,其处于校正组件的外侧,用于控制各个校正块的移动;其中准直组件和校正组件之间保持一定间隔以形成直线窄缝,当该校正与准直装置执行准直功能时,辐射成像系统发射的射线通过该直线窄缝以被准直;当该校正与准直装置执行校正功能时,操纵装置开始工作,顺序推动各小校正块分别进入窄缝与准直块接触,形成对射线的不同厚度的阻挡,由此得到不同的阻挡厚度以及相对应的射线强度关系。与现有校正与准直装置相比,体积小、重量轻,可以实现多种材质和高精度的校正,有利于提高辐射成像质量。
搜索关键词: 用于 辐射 成像 系统 紧凑型 校正 装置
【主权项】:
1.一种用于辐射成像系统的校正与准直装置,包括:准直组件;校正组件,由多个可分离的小校正块顺序排列组成;操纵装置,其处于校正组件的外侧,用于控制各个校正块的移动;其中准直组件和校正组件之间保持一定间隔以形成直线窄缝,当该校正与准直装置执行准直功能时,辐射成像系统发射的射线通过该直线窄缝以被准直;当该校正与准直装置执行校正功能时,操纵装置开始工作,顺序推动各小校正块分别进入窄缝与准直块接触,形成对射线的不同厚度的阻挡,由此得到不同的阻挡厚度以及相对应的射线强度关系。
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