[发明专利]薄膜晶体管有效
申请号: | 200810067171.0 | 申请日: | 2008-05-14 |
公开(公告)号: | CN101582448A | 公开(公告)日: | 2009-11-18 |
发明(设计)人: | 姜开利;李群庆;范守善 | 申请(专利权)人: | 清华大学;鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L29/43;H01L29/49;H01L29/41;H01L29/417;H01L29/423 |
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地址: | 100084北京市海淀区清华园1*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种薄膜晶体管,包括一源极、一漏极、一半导体层及一栅极,该漏极与该源极间隔设置,该半导体层与该源极和漏极电连接,该栅极通过一绝缘层与该半导体层、源极及漏极绝缘设置,其中,该栅极、源极和/或漏极包括一碳纳米管层,该碳纳米管层包括多个碳纳米管。 | ||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 | ||
【主权项】:
1.一种薄膜晶体管,包括:一源极;一漏极,该漏极与该源极间隔设置;一半导体层,该半导体层与该源极和漏极电连接;以及一栅极,该栅极通过一绝缘层与该半导体层、源极及漏极绝缘设置;其特征在于,该源极、漏极和/或栅极包括一金属性碳纳米管层。
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