[发明专利]光纤传感器温度性能的测试装置

摘要

本发明公开了一种光纤传感器温度性能的测试装置。它包括测试平台和控制器，测试平台包括半导体片、承载平台、样品隔热罩、隔热底板、铝质底板、阻热胶；铝质底板上设有半导体制冷热器件、挖槽的承载平台，铝质底板与承载平台之间通过阻热胶粘结，半导体冷热器件与承载平台和铝质底板之间设有导热胶，承载平台四周设有隔热底板，隔热底板上设有样品隔热罩。本发明最大限度抑制了在其他系统测试时的振动干扰，可以单纯进行对光线传感器的温度测试；防止样品空间与外部空间的空气对流，减少热量流失；温度的升降温曲线实现可控，稳态控制精度相当高；实时管测温度变化。

主权项

1.一种光纤传感器温度性能的测试装置，其特征在于包括测试平台和控制器，测试平台包括半导体制冷热器件(1)、承载平台(2)、样品隔热罩(3)、隔热底板(4)、铝质底板(5)、阻热胶(6)；铝质底板(5)上设有半导体制冷热器件(1)、挖槽的承载平台(2)，铝质底板(5)与承载平台(2)之间并通过阻热胶(6)粘结，半导体片(1)与承载平台(2)和铝质底板(5)之间设有导热胶，承载平台(2)四周设有隔热底板(4)，隔热底板(4)上设有样品隔热罩(3)。