[发明专利]基于交直流复合磁化的漏磁检测内外壁缺陷的识别方法有效
| 申请号: | 200810055891.5 | 申请日: | 2008-01-11 |
| 公开(公告)号: | CN101216460A | 公开(公告)日: | 2008-07-09 |
| 发明(设计)人: | 黄松岭;赵伟;董甲瑞;徐琛;陆文娟;吴德会 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
| 主分类号: | G01N27/83 | 分类号: | G01N27/83 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 100084北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | 一种基于交直流复合磁化的漏磁检测内外壁缺陷的识别方法,用于判断缺陷在被测材料的内壁还是外壁,属于无损检测领域。其特征在于,包括有如下三个基本步骤:1)利用交直流复合磁化方法对材料进行漏磁检测;2)将传感器检测到的漏磁信号进行频谱分析,求出缺陷部分交流漏磁信号的频率分量的大小;3)给定交流频率分量的阀值,通过比较检测的漏磁信号中的交流频率分量和阀值的大小,来判断缺陷在被测材料的内壁还是外壁。利用本发明可以在一次漏磁检测中方便的同时确定缺陷的位置和进行内外壁识别,有利于漏磁检测后对缺陷量化工作的进行。 | ||
| 搜索关键词: | 基于 直流 复合 磁化 检测 外壁 缺陷 识别 方法 | ||
【主权项】:
1.基于交直流复合磁化的漏磁检测内外壁缺陷的识别方法,其特征在于,所述方法是利用计算机按以下步骤依次实现的:步骤(1).初始化,在计算机中设定:磁化时通入激励线圈的交流电流频率分量幅值的阀值δ是设定值,频谱分析用的软件;步骤(2).按以下步骤利用交直流复合磁化方法对缺陷待测工件进行漏磁检测:步骤(2.1).在缺陷待测工件的内壁上放一个绕有激励线圈的磁芯,在所述激励线圈上通入直流和交流叠加的电流,直流磁化电流未达到饱和,安匝数在1000A~50000A中选取,交流电流的安匝数在5A~150A之间选取,从而在所述缺陷待测工件内外壁表面的缺陷处形成漏磁场;步骤(2.2).用磁敏传感器检测所述缺陷待测工件缺陷处的漏磁场,把所述磁敏传感器检测到的电信号进行模数变换后送入所述计算机;步骤(2.3).所述计算机利用频谱分析软件对所述数字信号进行频谱分析,信号频谱中除去直流分量后得到的最大幅值所对应的频率就是磁化时通入所述激励线圈的交流电流的频率,测出该频率分量的幅值大小A;步骤(2.4).比较步骤(2.3)中得到的漏磁信号中交流部分的频率分量的幅值A与设定的交流频率分量幅值的阀值δ:若:A>δ,测缺陷在所述缺陷待测工件的内壁;若:A<δ,测缺陷在所述缺陷待测工件的外壁。
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