[发明专利]高速沉积优质本征微晶硅薄膜的制备方法无效

专利信息
申请号: 200810053846.6 申请日: 2008-07-15
公开(公告)号: CN101315958A 公开(公告)日: 2008-12-03
发明(设计)人: 耿新华;韩晓艳;侯国付;张晓丹;张德坤;魏长春;孙建;赵颖;薛俊明;张建军 申请(专利权)人: 南开大学
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L21/205
代理公司: 天津佳盟知识产权代理有限公司 代理人: 侯力
地址: 300071*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种高速沉积优质本征微晶硅薄膜的制备方法,利用超高频等离子体增强化学气相沉积技术,其中,将高速沉积本征微晶硅薄膜的制备过程划分为至少两个时间段,每个时间段对应一个输入功率,在所述高速沉积本征微晶硅薄膜的制备过程中,所述输入功率以功率降低梯度呈递减的规则变化。本发明采用逐渐降低输入功率的方法沉积本征微晶硅薄膜,达到控制本征微晶硅薄膜纵向微结构演变和提高微结构致密性,从而提高高速沉积微晶硅太阳电池的光电转换效率。
搜索关键词: 高速 沉积 优质 征微晶硅 薄膜 制备 方法
【主权项】:
1、一种高速沉积本征微晶硅薄膜的制备方法,用于硅基薄膜太阳电池,利用超高频等离子体增强化学气相沉积技术,其特征在于:将高速沉积本征微晶硅薄膜的制备过程划分为至少两个时间段,所述每个时间段控制在5~20分钟,所述每个时间段对应一个输入功率,在所述高速沉积本征微晶硅薄膜的制备过程中,所述输入功率以功率降低梯度呈递减的规则变化。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南开大学,未经南开大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810053846.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top