[发明专利]应用核辐射场理论测量粉煤灰料位的方法

摘要

本发明公开的应用核辐射场理论测量粉煤灰料位的方法，首先确定粉煤灰斗的边界条件；将灰斗中粉煤灰分界面近似成面状辐射体，并建立面状辐射体边界与灰斗边界条件的关系；根据分界面面状辐射体上空γ场照射量率的数学模型，建立γ照射量率与料位高度的对应关系；将实际测量的γ照射量率带入该对应关系中，即得到该γ照射量率对应的灰斗内料位高度。本发明方法利用核辐射场理论知识，将灰斗中粉煤灰分界面当作面状辐射体来考虑，建立面状辐射体上空γ场照射量率与灰斗内物位高度的关系，只需知道灰斗的边界条件及测量出γ场照射量率，即可得到灰斗内物位的高度。在实际应用中，切实可行，并且操作简单，数据准确。

主权项

1.一种应用核辐射场理论测量粉煤灰料位的方法，其特征在于，该方法按以下步骤进行，a.确定粉煤灰斗的边界条件将测量物料γ照射量率的探头在灰斗外壁安装点所处的水平面作为灰斗的边界，得到灰斗的边界坐标尺寸：H₁(a，-b，H)，H₂(a，b，H)，H₃(-a，b，H)，H₄(-a，-b，H)，其中，H₁、H₂、H₃、H₄分别为灰斗边界的四个顶点，H为将灰斗近似成锥体后边界平面的高度，a，-a，b，-b分别为灰斗边界顶点的长、宽坐标尺寸；b.将灰斗中粉煤灰分界面近似成面状辐射体，并建立面状辐射体边界与灰斗边界条件的关系分界面面状辐射体顶点坐标位置为：h₁(a_h，-b_h，h)、h₂(a_h，b_h，h)、h₃(-a_h，b_h，h)、h₄(-a_h，-b_h，h)，其中，h₁、h₂、h₃、h₄分别为分界面面状辐射体的四个顶点，h为面状辐射体到边界平面的距离，a_h、-a_h、b_h、-b_h分别为面状辐射体顶点的长、宽坐标尺寸；将步骤a得到的灰斗边界尺寸坐标带入上述分界面面状辐射体边界尺寸坐标，得到分界面面状辐射体顶点坐标位置与灰斗边界顶点坐标位置的关系：h4(h-HH×a,h-HH×b,h),]]>h3(h-HH×a,H-hH×b,h),]]>h1(h-HH×a,h-HH×b,h),]]>h2(h-HH×a,H-hH×b,h);]]>c.根据分界面面状辐射体上空γ场照射量率数学模型，建立γ照射量率与料位高度的对应关系建立分界面面状辐射体上空P点的γ场照射量率数学模型为I=kcρμ×h×∫h-HH×aH-hH×a∫h-HH×bH-hH×be-μr0r03dydx,]]>其中，r0=x2+(y+b)2+h2,]]>c为粉煤灰中放射性物质的含量，k为粉煤灰发出γ射线的γ常数，ρ为粉煤灰的密度，μ为粉煤灰层上方空气对γ射线的线性有效吸收系数；确定将确定的值带入上述数学模型，并求解该数学模型，得到γ照射量率与料位高度h的对应关系；d.将实际测量得到的γ照射量率带入上步的对应关系中，即得到与该γ照射量率对应的灰斗内料位高度h。