[发明专利]低温等离子体原子发射光谱测定微量汞的装置及方法

摘要

一种低温等离子体原子发射光谱测定微量汞的装置及方法，属于分析检测技术领域，包括以下步骤：(1)选取汞的检测波长与背景校正波长；(2)绘制汞标准工作曲线；(3)测定待测溶液的汞含量；低温等离子体原子发射光谱测定微量汞的方法所采用的装置，包括蒸气发生进样系统、低温等离子体发生室、高频高压电源和光谱仪。本发明的有益效果是：介质阻挡放电的低温等离子体激发光源，无高温环境存在，大大降低了能耗，并使其供能系统简单，造价低廉且日常运行消耗很低。

主权项

1、一种低温等离子体原子发射光谱测定微量汞的装置，其特征在于包括蒸气发生进样系统(1)、低温等离子体发生室(2)、高频高压电源(3)和光谱仪(4)；所述的蒸气发生进样系统(1)中设有载流入口(11)，样品入口(12)，还原剂入口(13)，载气入口(14)，蒸气发生出口(15)，废液出口(16)，通过蒸气发生进样系统的软件程序控制该系统进行蒸气发生反应，产生汞蒸气；所述的低温等离子体发生室(2)中设有蒸气入口(21)，蒸气出口(22)，电极(23)，蒸气发生出口(15)与蒸气入口(21)相连；所述的高频高压电源(3)，电压输入端(31)接外部电压，电压输出端(32)接低温等离子体发生室(2)的电极(23)；所述光谱仪(4)的狭缝口(41)正对等离子体发生室(2)的蒸气出口(22)，通过计算机控制光谱仪采集低温等离子体发射光谱区域(25)内的特定波长光谱强度。