[发明专利]光存储介质的缺陷管理方法无效
| 申请号： | 200810005715.0 | 申请日： | 1999-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN101252015A | 公开（公告）日： | 2008-08-27 |
| 发明（设计）人： | 高祯完 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郭鸿禧;刘奕晴 |
| 地址： | 韩国京畿道*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提供了一种光存储介质的缺陷管理方法。记录介质存储表示使用或不使用线性替换缺陷管理的信息，其中记录介质上的缺陷区用备用区代替，以便记录实时数据。在保持该缺陷管理方法和基于当前DVD－RAM标准的缺陷管理方法之间的兼容性的同时，即在允许存在尚未线性替换的块的同时，当记录实时数据时不执行线性替换。这样能够记录和再现实时数据。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 介质 缺陷 管理 方法 | ||
【主权项】：
1、一种用于管理包括数据区的光记录介质上的缺陷的方法，所述方法包括：从数据区检测缺陷块；以及产生包括关于缺陷块的信息的缺陷列表，其中，关于缺陷块的信息包括：关于是否执行用于缺陷块的线性替换的信息、关于缺陷块的位置信息和关于用于替换缺陷块的替换块的位置信息。
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