[发明专利]半导体基板加工用粘合片有效

专利信息
申请号: 200810002428.4 申请日: 2008-01-07
公开(公告)号: CN101215448A 公开(公告)日: 2008-07-09
发明(设计)人: 山本晃好;新谷寿朗;浅井文辉;桥本浩一 申请(专利权)人: 日东电工株式会社
主分类号: C09J7/02 分类号: C09J7/02;C09J4/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 宋莉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的目的在于,提供一种稳定的粘合片,该粘合片不论半导体装置等的树脂组成如何、添加剂的种类、脱模剂的种类及其量如何,照射紫外线和/或放射线后,都会显示稳定的粘合力降低,另外,几乎可以完全防止在树脂表面残留粘糊。本发明的半导体基板加工用粘合片包括:对紫外线和/或放射线具有透过性的基材、和通过紫外线和/或放射线进行聚合固化反应的胶粘剂层,其中,上述胶粘剂层是使用具有双键的多官能丙烯酸酯类低聚物和/或单体而形成的,并且上述具有双键的多官能丙烯酸酯类低聚物和/或单体配合成在总平均分子量225~8000下含有一个双键,所述总平均分子量由上述多官能丙烯酸酯类低聚物和/或单体配合物的重均分子量求出。
搜索关键词: 半导体 基板加 工用 粘合
【主权项】:
1.一种半导体基板加工用粘合片,包括:对紫外线和/或放射线具有透过性的基材、和通过紫外线和/或放射线进行聚合固化反应的胶粘剂层,其中,上述胶粘剂层是使用具有双键的多官能丙烯酸酯类低聚物和/或单体而形成的,并且上述具有双键的多官能丙烯酸酯类低聚物和/或单体配合成在总平均分子量225~8000下含有一个双键,所述总平均分子量由上述多官能丙烯酸酯类低聚物和/或单体配合物的重均分子量求出。
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