[发明专利]芯片测试器、用于提供定时信息的方法、测试夹具套装、用于对传输延迟信息进行后处理的装置、用于对延迟信息进行后处理的方法、用于测试待测试器件的芯片测试设施和方法有效
| 申请号： | 200780100325.5 | 申请日： | 2007-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN101784906A | 公开（公告）日： | 2010-07-21 |
| 发明（设计）人： | 迈克尔·道博;阿尔夫·克莱门特;伯恩德·拉奎 | 申请（专利权）人： | 惠瑞捷(新加坡)私人有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/319 | 分类号： | G01R31/319 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 宋鹤;南霆 |
| 地址： | 新加坡*** | 国省代码： | 新加坡;SG |
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| 摘要： | 一种用于测试被连接到芯片测试器的至少两个待测试器件的芯片测试器，包括：定时计算器，用于生成用于芯片测试器的通道的定时信息。该定时计算器适用于获得传输延迟差信息，该信息描述一方面从芯片测试器的第一通道端口到第一待测试器件的第一端子的传输延迟与另一方面从芯片测试器的第一通道端口到第二待测试器件的第二端子的传输延迟之间的差。该定时计算器适用于基于传输延迟差信息提供用于被连接到第一待测试器件或第二待测试器件的芯片测试器的第二通道的定时信息。通道模块配置器适用于基于定时信息配置芯片测试器的第二通道。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 用于 提供 定时 信息 方法 夹具 套装 传输 延迟 进行 处理 装置 器件 设施 | ||
【主权项】：
一种芯片测试器(100；300)，用于测试被连接到所述芯片测试器的至少两个待测试器件(150，160)，该芯片测试器包括：定时计算器(110)，用于生成用于所述芯片测试器的通道(130，132)的定时信息，其中所述定时计算器适用于获得传输延迟差信息(112)，该传输延迟差信息描述一方面从所述芯片测试器的第一通道端口(134)到第一待测试器件的第一端子(152)的传输延迟与另一方面从所述芯片测试器的第一通道端口(134)到第二待测试器件的第一端子(162)的传输延迟之间的差，并且其中所述定时计算器适用于基于所述传输延迟差信息提供用于被连接到所述第一待测试器件或所述第二待测试器件的所述芯片测试器的第二通道(132)的定时信息；以及通道模块配置器(120)，适用于基于所述定时信息配置所述芯片测试器的第二通道。
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