[发明专利]利用扫光通过合并图像来检测表面中的缺陷的系统无效
| 申请号： | 200780052603.4 | 申请日： | 2007-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN101755200A | 公开（公告）日： | 2010-06-23 |
| 发明（设计）人： | 何塞普·托内罗·蒙特塞拉特;玛尔塔·科瓦东加·莫拉·阿吉拉尔;阿尔瓦罗·埃赖斯·马丁内斯;尼古拉斯·蒙特斯·桑切斯 | 申请（专利权）人： | 何塞普·托内罗·蒙特塞拉特 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/89 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 张焕生;安翔 |
| 地址： | 西班牙*** | 国省代码： | 西班牙;ES |
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| 摘要： | 利用扫光通过合并图像来检测表面中的缺陷的系统，通过由观测相机检验的区域，其中，通过运动的平面光束的照明来扫掠被检验的物体，该平面光束将获取的图像中的缺陷的尺寸放大。由相应的照相机捕获的物体的预定部分的所有图像被合并在单个图像中，以供进行其后续的处理。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 通过 合并 图像 检测 表面 中的 缺陷 系统 | ||
【主权项】：
一种通过利用扫光以合并具有放大的缺陷的图像来检测表面中的缺陷的系统，其特征在于，通过观测相机检验的区域，其中，通过运动的平面光束的照明来扫掠被检验的物体，所述平面光束将所获取的图像中的所述缺陷的尺寸放大，由相应的照相机捕获的物体的确定部分的所有图像被合并在单个图像中，以供进行其后续的处理。
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