[发明专利]能谱分辨的X射线成像装置有效

专利信息
申请号: 200780046161.2 申请日: 2007-12-11
公开(公告)号: CN101557762A 公开(公告)日: 2009-10-14
发明(设计)人: C·博伊默;R·斯特德曼布克;G·福格特米尔;T·谢尔;C·勒夫 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 王 英;刘炳胜
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明涉及一种X射线成像装置(100),尤其是一种能谱CT扫描器,其包括用于生成具有在观测周期(T)内连续变化的能谱(P(E,t))的X辐射的X射线源(10)。在优选实施例中,辐射(X)根据能量相关的衰减系数μ(E,r)在对象(1)内衰减,通过探测器(20,30)的传感器单元(22)测量透射的辐射,并对所得到的测量信号(i(t))进行采样和A/D转换。优选通过过采样A/D转换器,例如,∑Δ-ADC完成这一操作。以高频对驱动所述X射线源的管电压(U(t))采样。在评价系统(50)中,能够使这些采样的测量值与对应的有效能谱(Φ(E))相关,以确定能量相关的衰减系数μ(E,r)。
搜索关键词: 分辨 射线 成像 装置
【主权项】:
1、一种X射线成像装置(100),尤其是一种CT扫描器,包括a)用于发射具有在既定的观测周期(T)期间连续变化的能谱(P(E,t))的X射线(X)的X射线源(10);b)用于生成多个,即m≥2个辐射采样值(ik)的探测器(20,30),所述辐射采样值表示在所述观测周期(T)内的不同采样间隔(Ik)期间由所述探测器的传感器单元(22)测得的X辐射的量;c)用于确定所述X射线源(10)的与所述m个采样间隔(Ik)相关的有效能谱(Φk(E))的能谱估计单元(51)。
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