[发明专利]用于表征涂层组合物遮盖性的方法及其所用的设备

摘要

本发明涉及表征涂层组合物例如汽车OEM漆和修补漆的遮盖性的设备和方法。所述方法涉及：按顺序在计算装置中存储遮盖数据，所述遮盖数据通过测量单色调涂层的目标区域中亮的部分和暗的部分的反射光之间的色差(ΔRGB)，以及测量对应于所述目标区域的单色调涂层的涂层厚度来获得，所述单色调涂层由涂层组合物涂覆在遮盖测试样板上形成；将所述遮盖数据分类；选择适用于所述分类的遮盖数据的拟合方程；拟合所选择的方程以匹配所分类的遮盖数据；以及找到单色调涂层上对应于该位置处所述色差的阈值的遮盖厚度，以确定涂层组合物的遮盖厚度。

主权项

1. 用于表征涂层组合物的遮盖性的方法，所述方法包括：(i)在固定于遮盖测试样板的测试图案上涂覆所述涂层组合物的单色调层，以在所述测试图案上形成单色调涂层；(ii)按顺序均匀照射所述单色调涂层的目标区域P1至Pn，每个所述目标区域包括亮的部分和暗的部分；(iii)按顺序将所述目标区域P1至Pn的反射光导向感光装置以采集：(a)所述区域P1至Pn的所述亮的部分的强度1r1至1rn、1g1至1gn和1b1至1bn，以及(b)所述区域P1至Pn的所述暗的部分的强度dr1至drn、dg1至dgn和db1至dbn；(iv)按顺序在分别与所述目标区域P1至Pn对应的位置处测量所述单色调涂层的涂覆的实测厚度X1至Xn；(v)按顺序使用以下公式计算在所述目标区域P1至Pn处的实测Y1至Yn：[(1ri-dri)2+(1gi-dgi)2+(1bi-dbi)2]0.5 (1)其中i在1至n的范围内，并且所述实测Y1至Yn为实测ΔRGB；(vi)将遮盖数据存储于计算装置中，所述遮盖数据包括所述实测Y1至Yn以及所述涂覆的厚度X1至Xn；(vii)使用以下公式确定实测Yth的阈值：实测Yth＝Loge(实测Ymax)，(2)所述实测Ymax为在所述实测Y1至Yn范围内的最大值；(viii)按顺序比较所述实测Y1至Yn以识别小于实测Yth的第一实测Yq，其中q落在所述范围1至n内；(ix)计算比率(q/n)以将所述遮盖数据分类，其中所述遮盖数据分类如下：(a)1类遮盖数据，即当所述比率在0.01至小于0.25的范围内时，(b)2类遮盖数据，即当所述比率在0.25至小于0.35的范围内时，(c)3类遮盖数据，即当所述比率在0.35至小于0.50的范围内时，或(d)4类遮盖数据，即当所述比率在0.50至1.00的范围内时；(x)选择一个或多个适用于所述1类遮盖数据、2类遮盖数据、3类遮盖数据或4类遮盖数据的拟合方程，其中所述拟合方程限定了(y)和(x)之间的关系，所述(y)为对应于所述(x)的拟合色差，所述(x)为由所述一个或多个拟合方程生成的拟合曲线上的拟合厚度；(xi)拟合所述一个或多个选定的拟合方程以使成对的实测(X1，Y1)与成对的实测(Xn，Yn)匹配，其中所述拟合曲线在所述拟合曲线的渐近线处的拟合基线值为yb；(xii)选择大于所述拟合基线值yb的拟合阈值yth，其中所述拟合阈值yth适用于所述1类遮盖数据、2类遮盖数据、3类遮盖数据或4类遮盖数据；以及(xiii)在所述拟合曲线上找到对应于所述拟合阈值yth的所述涂层组合物的遮盖厚度xh。