[发明专利]散射衰减断层成像有效

专利信息
申请号: 200780031247.8 申请日: 2007-08-22
公开(公告)号: CN101506688A 公开(公告)日: 2009-08-12
发明(设计)人: 彼得·J·罗思柴尔德 申请(专利权)人: 美国科技工程公司
主分类号: G01V5/00 分类号: G01V5/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 杨 梧
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 基于以被辐照的成对体素确定的衰减表征检测目标的方法。用具有传播方向和能量分布的穿透射线的波束扫描目标,而具有校准视场的散射检测器检测被检测目标的每个体素散射的射线,检测目标与穿透射线的入射波束相交。通过计算穿透射线在入射波束入射的成对体素之间的衰减,获得断层图像,表征目标中穿透射线的一个或多个能量衰减的三维分布,从而表征各种材料特性。
搜索关键词: 散射 衰减 断层 成像
【主权项】:
1. 一种基于穿透射线的平均自由行程表征目标的方法,所述方法包括:产生穿透射线的入射波束,所述入射波束具有传播方向和能量分布;围绕穿透射线的波束设置多个检测器元件,每个检测器具有视场;校准每个检测器的视场;探测从位于检测目标内的多个体素散射的射线,每个体素被定义为所述检测器元件之一的视场与穿透射线的入射波束的传播方向的交点;和计算体素对之间散射穿透射线的衰减,所述体素对中的每个体素对应于穿透射线入射波束的至少两个传播方向中的一个。
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