[发明专利]用质谱法定量分析源自表面的样品有效
| 申请号： | 200780025261.7 | 申请日： | 2007-05-04 |
| 公开（公告）号： | CN101484808A | 公开（公告）日： | 2009-07-15 |
| 发明（设计）人： | B·塞尔达 | 申请（专利权）人： | 珀金埃尔默·拉斯公司 |
| 主分类号： | G01N33/68 | 分类号： | G01N33/68 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 刘 冬;李连涛 |
| 地址： | 美国麻*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 掺入内标的衬底有助于通过表面测量质谱技术定量分析样品中的被分析物，而无需湿化学法样品制备。使用者将待分析的样品处理至经预处理的衬底表面。然后载荷样品的固态衬底即可用于测量，所述衬底中掺入待定量的各被分析物的内标。 | ||
| 搜索关键词： | 用质谱 法定 分析 源自 表面 样品 | ||
【主权项】：
1. 一种用于通过质谱法测定样品中第一被分析物的量的方法，所述方法包括以下步骤：a. 提供具有表面并掺入对应于所述第一被分析物的已知量第一内标的固态衬底；b. 将所述样品处理至所述表面上；c. 将能量转移至所述衬底，以电离所述第一被分析物和第一内标，藉此产生第一被分析物离子和第一内标离子；d. 在质谱仪中收集所述第一被分析物离子和第一内标离子，以从所述第一被分析物离子产生第一被分析物信号，并从所述第一内标离子产生第一内标信号；e. 基于所述第一被分析物信号、第一内标信号、和第一内标的已知量计算所述第一被分析物的量。
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