[发明专利]氧化稳定的化学机械抛光组合物及方法有效

专利信息
申请号: 200780016565.7 申请日: 2007-03-06
公开(公告)号: CN101437912A 公开(公告)日: 2009-05-20
发明(设计)人: 史蒂文·格鲁姆拜恩;周仁杰;陈湛;菲利普·卡特 申请(专利权)人: 卡伯特微电子公司
主分类号: C09G1/02 分类号: C09G1/02;H01L21/321
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 宋 莉
地址: 美国伊*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明提供一种化学机械抛光(CMP)组合物,其包含氨基化合物、形成自由基的氧化剂、能抑制该氨基化合物的自由基诱导氧化的自由基捕集剂、及为此的含水载体。该自由基捕集剂为经羟基取代的多元不饱和环状化合物、含氮化合物、或其组合。任选地,该组合物包含金属氧化物研磨剂(例如,二氧化硅、氧化铝、二氧化钛、二氧化铈、氧化锆、或前述研磨剂中的两种或多种的组合)。本发明进一步提供一种用CMP组合物化学机械抛光基板的方法,以及一种提高含有胺及形成自由基的氧化剂的CMP组合物的保存期的方法,其中将自由基捕集剂加至该CMP组合物中。
搜索关键词: 氧化 稳定 化学 机械抛光 组合 方法
【主权项】:
1. 一种化学机械抛光(CMP)组合物,其包含:(a)氨基化合物;(b)形成自由基的氧化剂;(c)自由基捕集剂,其能抑制该氨基化合物的自由基诱导的氧化,该自由基捕集剂包含经羟基取代的多元不饱和环状化合物、含氮化合物、或其组合;及(d)为此的含水载体。
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