[发明专利]光学测量设备有效
| 申请号： | 200780013961.4 | 申请日： | 2007-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN101427125A | 公开（公告）日： | 2009-05-06 |
| 发明（设计）人： | S·沃德曼 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/47 | 分类号： | G01N21/47;G01N21/49;G01N21/00 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 | 代理人： | 吴立明 |
| 地址： | 荷兰艾恩*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于测量样本(10)，特别是人类皮肤的至少部分为半透明的表面(12)的光学外观的光学测量设备。这种光学测量设备包括：用于用从辐射源(58)发射的辐射光束产生的照射光束(20)照射表面(12)的照射装置(18)；以及用于截获作为样本(10)对入射到表面(12)上的照射光束(20)的响应产生的响应光束(30，32)的检测装置(56)。这种光学测量设备包括可以与样本(10)的表面(12)接触的测量头(14)，所述测量头(14)包括至少一个细长孔径(40)，设计成使得在样本(10)的表面(12)以下的次表面区域(16)内产生的响应光束(30，32)可被检测装置(56)检测，而在表面处直接反射的照射光束(20)被隔断。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测量 设备 | ||
【主权项】：
1. 一种用于测量样本(10)，特别是人类皮肤的表面(12)的光学外观的光学测量设备，其中所述表面至少部分为半透明，所述光学测量设备包括：照射装置(19)，用于用照射光束(20)照射表面(12)，其中从辐射源(58)发射的辐射光束产生所述照射光束(20)；检测装置(56)，用于截获响应光束(28，30，32)，其中作为样本(10)对入射到表面(12)上的照射光束(20)的响应而产生所述响应光束(28，30，32)，其特征在于：光学测量设备(9)包括可以与样本(10)的表面(12)接触的测量头(14)，其中所述测量头(14)包括至少一个细长孔径(40)，该细长孔径(40)设计成使得在样本(10)的表面(12)以下的次表面区域(16)内产生的响应光束(30，32)可被检测装置(56)检测，其中在表面上直接反射的照射光束(20)被隔断。
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