[发明专利]电子仪器用试验装置以及电子仪器用试验箱无效
| 申请号： | 200780007660.0 | 申请日： | 2007-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN101395485A | 公开（公告）日： | 2009-03-25 |
| 发明（设计）人： | 长嶋道夫;内田胜也;山本克史 | 申请（专利权）人： | 日本轻金属株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R29/10;H05K9/00 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 龙 淳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的技术课题在于，提供一种使试验箱(试验室)的电波屏蔽性能提高了的能够精密地进行电子仪器的试验的电子仪器用试验装置，并提供一种即便在玻璃板上形成厚的ITO膜的情况下或者在玻璃板的两面形成ITO膜的情况下，也能良好地观察试验箱主体内部的电子仪器的可视性高的电子仪器用试验箱。它具备在作为试验箱(10)与箱门(20)的抵接部分的试验箱(10)的开口边缘部(12)或者箱门(20)的周边部(22)安装的金属制的销(30、32、33)、和在箱门(20)的周边部(22)或者试验箱(10)的开口边缘部(12)安装的具有电波屏蔽性的衬垫(40、41、42)，另外，它还具备在试验箱主体(510的内周面安装的电波吸收体(530)、以及被固定在其表面的明色的绝缘层(540)。 | ||
| 搜索关键词： | 电子仪器 试验装置 以及 试验 | ||
【主权项】：
1. 一种电子仪器用试验装置，包括内部放置电子仪器并具有连通外部与内部的至少一个开口部的试验箱；以及通过合页安装在该试验箱上，用于开闭所述开口部的箱门，其特征在于：还包括被安装在作为所述试验箱与所述箱门的抵接部分的所述试验箱的开口边缘部或者所述箱门的周边部的金属制的销、以及安装在所述箱门的周边部或者所述试验箱的开口边缘部的具有电波屏蔽性的衬垫。
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