[发明专利]用于识别表面上的不均匀区域的方法有效
申请号: | 200780007184.2 | 申请日: | 2007-02-06 |
公开(公告)号: | CN101395635A | 公开(公告)日: | 2009-03-25 |
发明(设计)人: | F·斯特凡尼;D·兰普哥纳尼 | 申请(专利权)人: | 系统股份公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/40 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 党建华 |
地址: | 意大利*** | 国省代码: | 意大利;IT |
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摘要: | 一种用于识别表面上的不均匀区域的方法,包括:定义待识别的不均匀区域的主要的几何和尺寸特性;定义由预定函数表示的数学模型,该预定函数确立由与待识别的不均匀区域相似的区域组成的二维域或子域的要素和二维对应域或子对应域的对应要素之间的一致性或相关性,其中各要素表示灰色调的强度值;探测表面,以获取该表面的图像;通过预定尺寸的区域或“窗口”,将该图像与表示数学模型的对应域或子对应域进行比较,并检测它们之间的差异;针对每一区域或“窗口”,计算表示与二维对应域或子对应域的各要素的相关性值的整体数字指标;将每一整体数字指标与预定阈值的可接受性值进行比较;对任何超过预定阈值的可接受性值的情况发出通知。 | ||
搜索关键词: | 用于 识别 表面上 不均匀 区域 方法 | ||
【主权项】:
1. 一种用于识别表面上的不均匀区域的方法,其中该方法包括下面的基本步骤:定义待识别的不均匀区域的主要的几何和尺寸特性;定义由预定函数表示的数学模型,该预定函数确立由尺寸和几何特性(形状)与待识别的不均匀区域相似的区域组成的二维域或子域的要素和二维对应域或子对应域的对应要素之间的一致性或相关性,其中各要素表示灰色调的强度值;探测表面,用以获取该表面的图像;通过预定尺寸的区域或“窗口”,将该图像与表示数学模型的对应域或子对应域进行比较,并检测它们之间的差异;针对每一区域或“窗口”,计算表示与二维对应域或子对应域的要素的相关性值的整体数字指标,其中各要素表示灰色调的强度值;将每一整体数字指标与预定阈值的可接受性值进行比较;对任何超过预定阈值的可接受性值的情况发出通知。
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