[发明专利]采样RF信号的方法和装置有效
| 申请号： | 200780003619.6 | 申请日： | 2007-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN101375512A | 公开（公告）日： | 2009-02-25 |
| 发明（设计）人： | X·钱 | 申请（专利权）人： | NXP股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B1/30 | 分类号： | H04B1/30 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人： | 陈源;张天舒 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明提供用于在接收机中对RF信号进行采样的方法和装置，特别是提供了能够显著降低在RF频带内执行的采样率的方法和装置。本发明提供一种用于对RF信号进行采样的装置，该RF信号包括多个干扰频率分量和一个有用频率分量，该装置包括：滤波单元，用于从RF信号中滤出至少一个预定的干扰频率分量以产生陷波滤波RF信号；采样单元，用于以预定的采样率对陷波滤波RF信号进行采样以产生离散模拟信号。采样单元可以由多个陷波滤波器实现。通过使用根据本发明的方法和装置可以简单方便地实现RF采样，并且采样率可以降至约为有用频率分量的载波频率的1/N，这大大低于现有RF采样方案的采样率。根据本发明的方法和装置能够显著降低采样时的功耗。 | ||
| 搜索关键词： | 采样 rf 信号 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于采样RF信号的装置，该RF信号包括多个干扰频率分量和一个有用频率分量，所述装置包括：滤波单元，用于从RF信号中滤出至少一个预定的干扰频率分量以产生陷波滤波RF信号；采样单元，用于以预定的采样率对所述陷波滤波RF信号进行采样以产生离散模拟信号。
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