[实用新型]减少转位时间的测试系统无效

专利信息
申请号: 200720193481.8 申请日: 2005-01-28
公开(公告)号: CN201327500Y 公开(公告)日: 2009-10-14
发明(设计)人: 霍华德·罗伯茨 申请(专利权)人: 霍华德·罗伯茨;克雷格·斯普拉德林
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/26;G01R31/28
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 钟 强;谷惠敏
地址: 美国德*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 减少转位时间的测试系统包括具有测试源的测试器、连接到测试器的接口板、接口板的具有DUT1的第一插槽和具有DUT2的第二插槽、连接到所述测试器的第一机械手;连接到所述测试器的第二机械手;连接到所述测试器和接口板的开关,用于在每一时刻将测试器选择性地连接到第一插槽或第二插槽。还包括控制器,连接到所述第一机械手和第二机械手以及所述测试器。根据本实用新型的测试系统消除了机械手在器件测试操作中的空闲时间。
搜索关键词: 减少 时间 测试 系统
【主权项】:
1.用于减少转位时间的测试系统,该系统包括测试器和接口板,所述测试器具有用于执行分立测试的测试源,所述系统还包括:接口板的第一引脚;接口板的第二引脚;与测试源连接的多工继电器;其特征在于,所述第一引脚和第二引脚与多工继电器并行连接,用于可操作地将测试源切换应用到第一引脚和第二引脚中的任一个,其中,在由测试器为多个器件执行测试操作期间的每一时刻,测试源通过可操作地切换多工继电器,以在每一时刻的基本立即地无转位时间的连贯性,在第一引脚和第二引脚中的任一个处为所有多个器件进行测试,反之亦然,除非并直到该测试被中断为止。
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