[实用新型]模块化存储测试仪无效
申请号: | 200720102721.9 | 申请日: | 2007-09-30 |
公开(公告)号: | CN201107049Y | 公开(公告)日: | 2008-08-27 |
发明(设计)人: | 邸超;孙德冲 | 申请(专利权)人: | 邸超;孙德冲 |
主分类号: | G01D11/00 | 分类号: | G01D11/00;G01D21/02;G11C7/10 |
代理公司: | 山西太原科卫专利事务所 | 代理人: | 朱源 |
地址: | 030051山西省*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | 本实用新型涉及存储测试仪器,具体是一种模块化存储测试仪,解决了现有存储测试仪存在通用性低、回收复杂等问题,包括上设传感器接口的壳体和壳体内的内部电路,内部电路包含数据采集模块和存储模块,数据采集模块包括FPGA控制电路、信号调理电路、A/D采样电路、FIFO缓存电路,数据采集模块还包括USB主机及接口电路,存储模块为U盘,U盘通过USB接口与USB主机及接口电路相连,壳体上设有FPGA配置接口。本实用新型结构简单、合理,以U盘作为数据存储载体,回收方便,并能将采集到的数据以文件的形式实时存储到U盘当中;能在线更改内部电路的工作参数,避免了大量的重复设计,提高了其针对不同测试要求的通用性。 | ||
搜索关键词: | 模块化 存储 测试仪 | ||
【主权项】:
1、一种模块化存储测试仪,包括上设传感器接口的壳体和壳体内的内部电路,其特征在于内部电路包含数据采集模块和存储模块,数据采集模块包括FPGA控制电路、输入端与传感器接口相连的信号调理电路、以及由FPGA控制电路控制的与信号调理电路输出端相连的A/D采样电路、和与A/D采样电路输出端相连的FIFO缓存电路,数据采集模块还包括受FPGA控制电路控制的内嵌有与Windows兼容的FAT32文件系统的USB主机及接口电路,存储模块为U盘,U盘通过USB接口与USB主机及接口电路相连,壳体上设有FPGA配置接口。
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