[发明专利]石英晶体微量天平准确性验证试验系统有效

专利信息
申请号: 200710195196.4 申请日: 2007-12-04
公开(公告)号: CN101451943A 公开(公告)日: 2009-06-10
发明(设计)人: 臧卫国;易忠;孙伟;于钱;杨东升 申请(专利权)人: 北京卫星环境工程研究所
主分类号: G01N5/02 分类号: G01N5/02;G01N5/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100094*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种石英晶体微量天平测量准确性试验装置,包括放气室原位实时称重系统、放气物余弦定量散射系统、角系数检验系统;放气室原位实时称重系统实现放气物质量变化的实时测量,其测量值通过标定的电子天平追溯到国家质量计量基准;放气物余弦定量散射系统通过定量散射方法将10-4g数量级的定量质量传递到石英晶体微量天平表面上的10-7g/cm2数量级的定量质量面密度,实现了石英晶体微量天平的定量加载,其加载量测量准确性可追溯到上级和国家计量系统的质量基准;角系数检验系统,用于验证散射系统角系数的准确性,保证整个质量传递过程的受控。本发明的准确性试验系统的试验精度高,不确定度优于40%,采用放气物的真空下实时的直接称重,实现了放气速率的准确测量。
搜索关键词: 石英 晶体 微量 天平 准确性 验证 试验 系统
【主权项】:
1. 石英晶体微量天平测量准确性试验系统,包括放气室原位实时称重系统(1)、放气物余弦定量散射系统(2)、角系数检验系统(3);其中,放气室原位实时称重系统(1)经过标定的电子天平(11)、电子天平加卸载装置(12)、放气室(13)、放气室温度控制装置(14);所述电子天平(11)直接实时对放气室(13)进行称重,电子天平加载卸载装置(12)实现所述电子天平(11)的复零保证称重的准确性;所述放气室温度控制装置(14)对放气室(13)进行非接触的温度控制,所述放气室(13)的质量值被传递到放气物(21)的质量值,实现了质量值传递;所述放气物余弦定量散射系统(2)包括放气物(21)、散射装置(12)、沉积表面(13);放气物(21)释放的气体通过散射系统(22),到达沉积表面(23);放气室原位实时称重系统(1)中的放气室(13)对放气物(21)的放气速率进行的质量量值传递,散射装置(12)将质量值转换成沉积表面(23)上的质量面密度值;质量面密度值的准确性可向上追溯到国家质量计量基准;所述角系数检验系统(3)包括经过标定的电子天平(31)、电子天平加卸载装置(32)、沉积量检验板(33);所述电子天平(31)直接实时对沉积量检验板(33)进行称重,电子天平加载卸载装置(32)实现经过标定的电子天平(11)的复零保证称重的准确性;沉积量检验板(33)接受与放气物余弦定量散射系统(2)中的沉积表面(23)相同的质量面密度的沉积,这个质量面密度由电子天平(31)质量称重,从而实现对散射系统准确验证;通过增加放气物量使得沉积量检验板(33)沉积量大于10-4g,符合经过标定的电子天平(31)的称重范围要求。
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