[发明专利]半导体集成电路的布局设计仪器有效
| 申请号： | 200710181212.4 | 申请日： | 2003-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN101162481A | 公开（公告）日： | 2008-04-16 |
| 发明（设计）人： | 野中义弘 | 申请（专利权）人： | 日本电气株式会社 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50;H01L27/02 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 孙志湧;陆锦华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及一种布局设计仪器，含有：存储装置，用于存储由多个晶体管构成的电路的电路数据；搜索装置，用于搜索一组路径，使得通路对任何一个晶体管只通过一次且一组中路径的组合能够覆盖电路数据所表示的整个电路网络；抽选装置，用于从所述搜索装置发现作为搜索结果的各组路径中选出具有最小路径数的一组路径；布局宽度确定装置，用于确定布局宽度，其依据为，每个晶体管的源极和漏极的宽度、源极和漏极之间区域的宽度、未结合成公共电极的一些相邻晶体管对的源极和漏极之间区域的宽度、晶体管的数目、以及由所述抽选装置选出的路径组中所包含的路径数；布局确定装置，用于形成关于布局的信息，其中，包括在所述电路中的晶体管的源极、漏极和栅极都位于小宽度区域内，该小宽度区域的宽度由所述布局宽度确定装置确定；以及输出装置，用于输出由所述布局确定装置确定的布局信息。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 集成电路 布局 设计 仪器 | ||
【主权项】：
1.一种布局设计仪器，含有：存储装置，用于存储由多个晶体管构成的电路的电路数据；搜索装置，用于搜索一组路径，使得通路对任何一个晶体管只通过一次且一组中路径的组合能够覆盖电路数据所表示的整个电路网络；抽选装置，用于从所述搜索装置发现作为搜索结果的各组路径中选出具有最小路径数的一组路径；布局宽度确定装置，用于确定布局宽度，其依据为，每个晶体管的源极和漏极的宽度、源极和漏极之间区域的宽度、未结合成公共电极的一些相邻晶体管对的源极和漏极之间区域的宽度、晶体管的数目、以及由所述抽选装置选出的路径组中所包含的路径数；布局确定装置，用于形成关于布局的信息，其中，包括在所述电路中的晶体管的源极、漏极和栅极都位于小宽度区域内，该小宽度区域的宽度由所述布局宽度确定装置确定；以及输出装置，用于输出由所述布局确定装置确定的布局信息。
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