[发明专利]基于探路法的未知自由曲面自适应测量方法与测头装置无效
| 申请号： | 200710156129.1 | 申请日： | 2007-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN101149253A | 公开（公告）日： | 2008-03-26 |
| 发明（设计）人： | 卢科青;王文;陈子辰 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/24;G01B11/03 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人： | 林怀禹 |
| 地址： | 310027浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于探路法的未知自由曲面自适应测量方法与测头装置。将接触式测头安装在两个激光测头中间，整个装置安装在三坐标测量机的Z轴上，利用两个激光测头的信号进行探路，接触式测头用于测量；当接触式测头从当前测量点运动到下一个待测点的过程中，激光测头以0.5～2mm的采样步长，对前面的测量路径进行探路，并将获得的测量数据经过处理后，拟合成三次均匀B样条曲线；然后将拟合后的曲线按曲率大小，离散成自适应的采样点，同时生成与采样点对应避障点；再以这些采样点、避障点指导接触式测量，实现对未知自由曲面的自适应测量。该方法算法简便，装置结构简单，易于实现。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 探路 未知 自由 曲面 自适应 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种基于探路法的未知自由曲面自适应测量方法，其特征在于：将接触式测头安装在两个激光测头中间，整个装置安装在三坐标测量机的Z轴上，其中利用两个激光测头的信号进行探路，接触式测头用于测量。测量时，当接触式测头从当前测量点运动到下一个待测点的过程中，激光测头以0.5～2mm的采样步长，对前面的测量路径进行探路，并将获得的测量数据经过处理后，拟合成三次均匀B样条曲线；然后将拟合后的曲线按曲率大小，离散成自适应的采样点，同时生成与采样点对应避障点。再以这些采样点、避障点指导接触式测量，实现对未知自由曲面的自适应测量。
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