[发明专利]微型芯片检验装置有效
| 申请号： | 200710149084.5 | 申请日： | 2007-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN101140219A | 公开（公告）日： | 2008-03-12 |
| 发明（设计）人： | 小川义正;金田和之;壁田胜利 | 申请（专利权）人： | 优志旺电机株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17;G01N33/48;G01N21/03 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 徐殿军 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种具有能够将微型芯片严密地定位并将附着的样品液容易地除去的芯片保持器的微型芯片检验装置。一种微型芯片检验装置，具有：芯片保持器，设置在测定台上，由盖部和箱部构成；微型芯片，收纳在上述芯片保持器中，具有光学测定部；光源，使光相对于上述微型芯片的光学测定部入射；检测器，接收透过上述光学测定部的光；和控制部，对装置进行控制，其特征在于，在上述芯片保持器中，设置有在垂直于上述光学测定部的光轴的两方向上将上述微型芯片定位的基准面、和将上述微型芯片紧贴到上述基准面上的推压部；通过将上述芯片保持器的上述盖部关闭，而将上述微型芯片在上述芯片保持器内定位。 | ||
| 搜索关键词： | 微型 芯片 检验 装置 | ||
【主权项】：
1.一种微型芯片检验装置，具有：芯片保持器，设置在测定台上，由盖部和箱部构成；微型芯片，收纳在上述芯片保持器中，具有光学测定部；光源，使光相对于上述微型芯片的光学测定部入射；检测器，接收透过上述光学测定部的光；和控制部，对装置进行控制，其特征在于，在上述芯片保持器中，设置在垂直于上述光学测定部的光轴的两方向上定位上述微型芯片的基准面、和将上述微型芯片紧贴到上述基准面上的推压部；通过将上述芯片保持器的上述盖部关闭，而将上述微型芯片在上述芯片保持器内定位。
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