[发明专利]MEMS开关以及MEMS开关的制造方法有效

专利信息
申请号: 200710140210.0 申请日: 2007-08-03
公开(公告)号: CN101118819A 公开(公告)日: 2008-02-06
发明(设计)人: 渡边徹;佐藤彰;稻叶正吾;森岳志 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: H01H59/00 分类号: H01H59/00;H01H57/00;H01H49/00;H01P1/10;B81C1/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种MEMS开关以及MEMS开关的制造方法。以往,当将MEMS开关应用于分压电路时,因为MEMS开关的电阻被抑制得较低,所以需要外附分压用的电阻。因此,MEMS开关周边的电路部件数增大。因而,存在芯片面积增加,芯片内部的温度分布的绝对值增大,各电阻间的温度产生分布,由于电阻具有的温度系数而使电阻值相对变动,从分压电路得到的电压值的精度降低的问题。为了解决上述问题,本发明对MEMS开关的可动部分使用了具有电阻的可动电阻体。由于开关自身具有电阻,因此可以省略与MEMS开关连接的分压用的电阻。因此,可以使芯片面积小型化,抑制芯片内部的温度分布的绝对值,并抑制因电阻具有的温度系数所导致的电阻值相对变动。
搜索关键词: mems 开关 以及 制造 方法
【主权项】:
1.一种MEMS开关,其具有在基板的第1主面侧形成的固定电极、和可动电阻体,其特征在于:当所述MEMS开关被设定为导通状态时,所述可动电阻体是分配电位的电阻。
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