[发明专利]热分析系统及其干燥方法无效
| 申请号： | 200710138125.0 | 申请日： | 2007-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN101113965A | 公开（公告）日： | 2008-01-30 |
| 发明（设计）人： | 中谷林太郎;木下良一;西村晋哉 | 申请（专利权）人： | 精工电子纳米科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20;G01N25/00;F26B3/06 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 原绍辉;杨松龄 |
| 地址： | 日本千叶*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 为能降低手工工作，通过取决于冷却设备的连接模式适当地选择干燥条件进行了干燥操作控制，且无误地去除了湿气等。热分析系统使用加热器和冷却设备来升高和降低净化盒内的温度。在用于热分析系统的干燥方法中，干燥操作通过如下进行：取决于冷却设备的连接模式事先设定干燥条件；在热分析系统激活时启动打开时间干燥过程的控制；根据对应于所选择的冷却设备连接模式的干燥条件供给预先确定的干燥空气量到净化盒内而使冷却设备保持关断；和使温度控制模块控制干燥气体的温度。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 系统 及其 干燥 方法 | ||
【主权项】：
1.一种热分析系统，其具有热炉主体部分，包括样品装载在其内的加热器块、与加热器块连接的冷却块和形成了加热器块和冷却块的外部壳体的净化盒，该热分析系统的特征在于包括：热炉主体部分干燥装置，用于响应于热分析系统的激活而干燥热炉主体部分预先确定的时间。
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