[发明专利]为电子电路的基于扫描测试产生测试时钟的系统、装置和方法有效
| 申请号： | 200710127925.2 | 申请日： | 2007-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN101127518A | 公开（公告）日： | 2008-02-20 |
| 发明（设计）人： | C·苏尔 | 申请（专利权）人： | 晶像股份有限公司 |
| 主分类号： | H03K5/19 | 分类号： | H03K5/19 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 陈炜 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开了用于产生扫描链测试时钟以实现电子电路的基于扫描测试的系统、结构和方法。在一实施方式中，测试时钟控制结构包括可编程测试时钟控制器。该可编程测试时钟控制器包括用于产生可配置测试时钟的测试时钟发生器。它还包括用可配置测试时钟驱动扫描链部分的扫描层接口、和被配置成访问用于控制扫描链部分的控制信息的控制层接口。在另一实施方式中，一种方法执行电路的基于扫描测试。该方法包括使用包括上次移位启动测试图和宽面测试图的实现动态故障检测的测试图，执行至少一次域内测试并执行至少一次域间测试。 | ||
| 搜索关键词： | 电子电路 基于 扫描 测试 产生 时钟 系统 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于产生测试时钟以实现电子电路的基于扫描测试的测试时钟控制结构，所述测试时钟控制结构包括：用于测试电路的可编程测试时钟控制器，所述可编程测试时钟控制器包括：测试时钟发生器，它被配置成产生可配置测试时钟；扫描层接口，它被配置成用所述可配置测试时钟驱动扫描链的扫描链部分；以及控制层接口，它被配置成访问用于控制所述扫描链部分的控制信息。
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