[发明专利]开盖机构及半导体加工设备及其开盖控制方法有效
申请号: | 200710120746.6 | 申请日: | 2007-08-24 |
公开(公告)号: | CN101373703A | 公开(公告)日: | 2009-02-25 |
发明(设计)人: | 张俊;刘利坚 | 申请(专利权)人: | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/203;H01L21/205;H01L21/3065;H01L21/316;H01L21/67;C23C14/22;C23C16/44;C23F4/00 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 | 代理人: | 赵镇勇 |
地址: | 100016北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种安全性高、水平定位精确的开盖机构及半导体加工设备及其开盖控制方法。开盖机构的连接件上固定有感应盘,感应盘上开有感应孔,开盖机构上对应于感应盘的位置设有光电传感器,半导体加工设备基体和被提升部件上还设有相对应的对射式光电传感器。被提升部件固定在连接件上,并可随连接件一同升降和转动,可以根据光电传感器对感应盘的感应信号确定被提升部件的水平位置信息,还可根据对射式光电传感器的感应信号确定被提升部件与设备基体的垂直对准信息,并根据所述信息控制被提升部件的水平转动或升降运动。安全性高、水平定位精确。 | ||
搜索关键词: | 机构 半导体 加工 设备 及其 控制 方法 | ||
【主权项】:
1.一种开盖机构,包括提升装置,所述提升装置上设有升降滑块,其特征在于,所述的升降滑块连接有连接件,所述连接件与所述升降滑块之间可以相对转动,所述连接件上固定有感应盘,所述感应盘上开有感应孔,所述提升装置上对应于感应盘的位置设有光电传感器。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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