[发明专利]存储装置、存储装置控制方法和控制装置无效
申请号: | 200710103824.1 | 申请日: | 2007-05-16 |
公开(公告)号: | CN101154417A | 公开(公告)日: | 2008-04-02 |
发明(设计)人: | 田代雅己;久米俊光 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
主分类号: | G11B20/10 | 分类号: | G11B20/10;G11B20/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 黄纶伟;迟军 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种能够减少命令处理时间的存储装置、所述存储装置的控制方法及控制装置。一种能够从外部设备接收写入请求的存储装置,该存储装置包括:FMT位置计数器(51),其测量与记录介质的轨道上的头部位置有关的第一测量值;数据接收计数器(41),其测量与所接收的写入请求数据的数据量有关的第二测量值,所述写入请求数据是包括在来自所述外部设备的所述写入请求中的数据;以及顺序控制器(52),其基于分别由所述FMT位置计数器(51)和数据接收计数器(41)测量的所述第一和第二测量值来控制针对所述轨道的数据写入操作。 | ||
搜索关键词: | 存储 装置 控制 方法 | ||
【主权项】:
1.一种能够从外部设备接收写入请求的存储装置,该存储装置包括:第一测量部,其测量与在记录介质的轨道上的头部位置有关的第一测量值;第二测量部,其测量与所接收的写入请求数据的数据量有关的第二测量值,所述写入请求数据是包括在来自所述外部设备的所述写入请求中的数据;以及控制部,其基于所述第一测量部和第二测量部测量的所述第一和第二测量值来控制对所述轨道的数据写入操作。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士通株式会社,未经富士通株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710103824.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。