[发明专利]利用光线扫描的干涉型纳米表面三维在线测量系统及方法无效
申请号: | 200710099709.1 | 申请日: | 2007-05-29 |
公开(公告)号: | CN101055167A | 公开(公告)日: | 2007-10-17 |
发明(设计)人: | 谢芳 | 申请(专利权)人: | 北京交通大学 |
主分类号: | G01B9/023 | 分类号: | G01B9/023 |
代理公司: | 北京市商泰律师事务所 | 代理人: | 吴克宇;毛燕生 |
地址: | 100044*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 利用光线扫描的干涉型纳米表面三维在线测量系统及方法,共路干涉结构,抑制了环境干扰。光栅将谱宽40nm的光束色散成波长在空间连续分布的光片,经准直成平行光片,平柱透镜的柱面镀有半透半反膜,故一半光强被反射沿原路返回作为参考光,另一半光强被聚焦成光线,不同波长被不同被测点反射回系统,与参考光干涉后又被色散成波长在空间连续分布的光片,由线阵CCD探测。CCD不同像元探测到不同波长干涉信号,测出每个像元干涉信号相位变化量,即测出对应被测点纵向变化值。一次定位,完成表面二维测量;光线横向扫描,完成表面三维测量。极大提高测量速度,降低成本。利用光程跟踪扩大量程,使量程达300μm;分辨率优于0.1nm。 | ||
搜索关键词: | 利用 光线 扫描 干涉 纳米 表面 三维 在线 测量 系统 方法 | ||
【主权项】:
1、一种利用光线扫描的干涉型纳米表面三维在线测量系统,其特征在于:它利用波长在空间连续分布的光线扫描被测表面进行线扫描测量,测量光路与参考光路共路构成共路干涉系统,利用光程跟踪的方法扩大量程,测量量程可达300μm;该系统是由超辐射发光二极管SLD、光纤3dB-耦合器、光纤自准直透镜Z1和Z2、色散和准直系统、平柱聚焦透镜、压电陶瓷PZT1和PZT2、高速线阵CCD、相位测量、信号发生器、A/D转换卡、计算机、结果输出组成。
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