[发明专利]测试装置及测试方法有效
| 申请号： | 200710097920.X | 申请日： | 2007-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN101038322A | 公开（公告）日： | 2007-09-19 |
| 发明（设计）人： | 李俊贤 | 申请（专利权）人： | 友达光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人： | 梁挥;祁建国 |
| 地址： | 台湾*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种测试装置及测试方法。测试装置用以测试一电子组件。电子组件具有一软性电路板，测试装置包括一测试板、一支撑座及至少一顶针。测试板具有至少一接垫。支撑座用以承载测试板及电子组件。顶针设置于支撑座上，并位于测试板及软性电路板之间。顶针具有一第一端及一第二端，第一端用以电性连接接垫，第二端用以电性连接软性电路板。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试装置，用以测试一电子组件，该电子组件具有一软性电路板，该测试装置包括：一测试板，具有至少一接垫；一支撑座，用以承载该测试板及该电子组件；以及至少一顶针，设置于该支撑座上，并位于该测试板及该软性电路板之间，该顶针具有一第一端及一第二端，该第一端用以电性连接该接垫，该第二端用以电性连接该软性电路板。
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