[发明专利]内建备份元件分析器以及备份元件分析方法无效
| 申请号： | 200710097917.8 | 申请日： | 2007-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN101290804A | 公开（公告）日： | 2008-10-22 |
| 发明（设计）人： | 曾子维;黄瑜真;李进福;包建元 | 申请（专利权）人： | 智原科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 寿宁;张华辉 |
| 地址： | 中国台湾新*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种内建备份元件分析器及其备份元件分析方法，用于包括多个可修复记忆体的晶片。此方法包括下列步骤，先识别发生错误的可修复记忆体(以下简称错误记忆体)的识别码，并根据识别码提供参数，此参数包括错误记忆体的栏位址长度、列位址长度、字组长度、备份栏数量、以及备份列数量。由于个别可修复记忆体的参数皆不一致，为统一格式以利后续作业，先根据此参数将记忆体错误位置标准化成通用格式，然后根据此参数以及转为通用格式的错误位置进行备份元件修复分析，将分析结果自通用格式转换为错误记忆体的格式，最后输出分析结果至错误记忆体。 | ||
| 搜索关键词： | 备份 元件 分析器 以及 分析 方法 | ||
【主权项】：
1.一种内建备份元件分析器，内建于一晶片，该晶片包括多个可修复记忆体，其特征在于该内建备份元件分析器包括：一参数切换单元，根据一记忆体错误信号产生该些可修复记忆体当中一错误记忆体的识别码，并根据该识别码提供一参数，其中该参数包括该错误记忆体的栏位址长度、列位址长度、字组长度、备份栏数量、以及备份列数量；一输入转换单元，耦接于该参数切换单元以接收该参数，根据该参数将一错误位置自该错误记忆体的格式转换为该内建备份元件分析器的通用格式；以及一分析转换单元，耦接于该参数切换单元以接收该参数，耦接于该输入转换单元以接收转为该通用格式的该错误位置，根据该参数以及该错误位置进行备份元件修复分析，将分析结果自该通用格式转换为该错误记忆体的格式，然后输出该分析结果至该错误记忆体。
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