[发明专利]改善静电导通均匀性的多叉指型MOSFET结构无效

专利信息
申请号: 200710094240.2 申请日: 2007-11-19
公开(公告)号: CN101442044A 公开(公告)日: 2009-05-27
发明(设计)人: 田光春 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L23/60
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 代理人: 丁纪铁
地址: 201206上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种改善静电导通均匀性的多叉指型MOSFET结构,将多叉指型MOSFET的各个叉指的本地衬底短接在一起,并将短接在一起的本地衬底悬空,当其中任意一个叉指达到开启电压时,其他所有叉指也达到开启电压。本发明能使多叉指型MOSFET的各叉指同时开启导通,改善多叉指型MOSFET结构的静电保护性能。
搜索关键词: 改善 静电 均匀 多叉指型 mosfet 结构
【主权项】:
1一种改善静电导通均匀性的多叉指型MOSFET结构,其特征在于:将多叉指型MOSFET的各个叉指的本地衬底短接在一起,并将短接在一起的本地衬底悬空,当其中任意一个叉指达到开启电压时,其他所有叉指也达到开启电压。
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