[发明专利]光学信息再现设备及使用其的光学信息再现方法无效

专利信息
申请号: 200710089190.9 申请日: 2007-03-21
公开(公告)号: CN101051212A 公开(公告)日: 2007-10-10
发明(设计)人: 金学善;尹弼相;黄义石 申请(专利权)人: 大宇电子株式会社
主分类号: G03H1/22 分类号: G03H1/22;G03H1/00;G11B7/0065
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 孙海龙
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明提供了一种光学信息再现设备及使用其的光学信息再现方法。该光学信息再现设备包括:参考光束提供单元,该参考光束提供单元向光学信息记录介质上的待再现的再现记录区和在该再现记录区周围的周边记录区输入参考光束;周边光束检测单元,该周边光束检测单元使响应于所述参考光束从所述再现记录区再现的再现光束透射,并检测从所述周边记录区再现的周边光束;跟踪伺服单元,该跟踪伺服单元对检测到的周边光束的光学信息进行分析并控制跟踪位置;以及再现光束检测单元,该再现光束检测单元检测已穿过所述周边光束检测单元的再现光束。因此,可以使用周边光束而判断当前跟踪状态,并且在再现光学信息时使用该判断的结果而进行跟踪伺服控制处理。
搜索关键词: 光学 信息 再现 设备 使用 方法
【主权项】:
1、一种光学信息再现设备,该光学信息再现设备包括:参考光束提供单元,该参考光束提供单元向光学信息记录介质上的待再现的再现记录区和在该再现记录区周围的周边记录区输入参考光束;周边光束检测单元,该周边光束检测单元使响应于所述参考光束从所述再现记录区再现的再现光束透射,并检测从所述周边记录区再现的周边光束;跟踪伺服单元,该跟踪伺服单元对检测到的周边光束的光学信息进行分析并控制跟踪位置;以及再现光束检测单元,该再现光束检测单元检测穿过所述周边光束检测单元的再现光束。
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