[发明专利]半导体装置及其制造方法有效
| 申请号: | 200710087684.3 | 申请日: | 2003-02-03 | 
| 公开(公告)号: | CN101013684A | 公开(公告)日: | 2007-08-08 | 
| 发明(设计)人: | 若林猛;三原一郎 | 申请(专利权)人: | 卡西欧计算机株式会社 | 
| 主分类号: | H01L23/485 | 分类号: | H01L23/485;H01L23/538;H01L25/00 | 
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 王英 | 
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP | 
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| 摘要: | 将多个半导体芯片(23)结合至基板(21)上所形成的粘接层(22)。然后,对多个半导体芯片(23)集中形成第一至第三绝缘膜(31、35、39)、第一和第二底垫金属层(33、37)、第一和第二重新布线(34、38),以及焊球(41)。在这种情况下,第一和第二底垫金属层(33、37)通过溅射法形成,且第一和第二重新布线(34、38)通过电镀法形成。随后,在位于相邻半导体芯片(23)之间的区域中切割由三个绝缘膜(39、35、31)、粘接层(22)和基板(21)组成的分层结构。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
                1.一种半导体装置,包括:至少一个半导体芯片(23),在其上表面上形成有多个连接垫(25);形成覆盖所述半导体芯片(23)上表面及周围表面的至少一层绝缘膜(31、35、39);以及以与所述半导体芯片(23)的连接垫(25)电连接的方式,在所述绝缘膜(31、35、39)上表面上形成的重新布线(38、134);其中至少一些所述重新布线(38、134)中的每一个,包括位于所述半导体芯片(23)之外,所述绝缘膜(31、35、39)的一区域中的衬垫部分,以及其中所述绝缘膜(31)具有上表面及下表面,并具有位于所述半导体芯片(23)之外并从所述绝缘膜(31)的上表面延伸至下表面的通孔(28),在该通孔(28)内形成电极(161)。
            
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