[发明专利]非易失性存储装置及其制造方法和编程方法无效

专利信息
申请号: 200710084243.8 申请日: 2007-01-04
公开(公告)号: CN101005081A 公开(公告)日: 2007-07-25
发明(设计)人: 吴尚炫;安正烈;权日荣 申请(专利权)人: 海力士半导体有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L23/522;H01L23/552;H01L21/8247;H01L21/768;G11C16/02;G11C16/10
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明公开了一种非易失性存储装置及其制备方法和编程方法,其中,该非易失性存储装置包括:形成在半导体衬底上的多条选择线和多条字线,形成在选择线之间的接触插塞,以及形成在选择线和邻近该选择线的字线之间并与该半导体衬底隔离的导电干扰屏蔽线。
搜索关键词: 非易失性 存储 装置 及其 制造 方法 编程
【主权项】:
1、一种非易失性存储装置,包括:形成在半导体衬底上的多条选择线和多条字线;形成在所述选择线之间的接触插塞;以及形成在所述选择线和邻近所述选择线的字线之间并与所述半导体衬底隔离的导电材料的干扰屏蔽线。
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