[发明专利]半导体装置无效

专利信息
申请号: 200710084103.0 申请日: 2007-02-16
公开(公告)号: CN101026158A 公开(公告)日: 2007-08-29
发明(设计)人: 西尾洋二;植松裕;大坂英树;原敦;船场诚司 申请(专利权)人: 尔必达存储器株式会社
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L23/522;H01L23/528;G11C11/4074;G11C11/4099;G11C7/14;G11C5/14
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 钟强;关兆辉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种半导体装置,进一步确保输入电路中的参照电压的噪声容限。上述半导体装置包括:焊盘(14),输入参照电压(Vref);输入电路(13);电阻元件(R1),连接在输入电路(13)的输入端与焊盘(14)之间;电容元件(C1),连接在输入电路(13)的输入端与半导体芯片(11a)内的电源VDD之间;以及电容元件(C2),连接在输入电路(13)的输入端与半导体芯片(11a)内的接地VSS之间。上述半导体装置,根据参照电压(Vref)的供电网的阻抗特性,确定电阻元件(R1)的电阻值。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
1.一种半导体装置,其特征在于,包括:输入端子,输入参照电压;输入电路;第1电阻元件,连接在上述输入电路的输入端与上述输入端子之间;第1电容元件,连接在上述输入端与半导体装置内的电源配线之间;以及第2电容元件,连接在上述输入端与上述半导体装置内的接地配线之间。
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